美國(guó)達(dá)高特涂層測(cè)厚儀在國(guó)內(nèi)外大大小小的牌子就 100多個(gè)，我們經(jīng)常面對(duì)客戶同一種疑惑，我應(yīng)該怎么選？曾經(jīng)我們納悶了好一段時(shí)間，因?yàn)槲覀兓谟脩暨x型開(kāi)發(fā)了涂層測(cè)厚儀選型器，可以傻瓜式的根據(jù)他的應(yīng)用環(huán)境和要求確定哪些儀器適合哪些儀器不適合。在使用過(guò)程中普遍用戶反映很直觀，比業(yè)務(wù)員講解簡(jiǎn)單。
同事要求我寫一篇如何選擇美國(guó)達(dá)高特涂層測(cè)厚儀的文章，我思來(lái)想去，界定選擇哪種測(cè)試方法、精度、量程的這些交給系統(tǒng)，不同的應(yīng)用環(huán)境，特殊形狀，應(yīng)用的有對(duì)應(yīng)的解決方案，估計(jì)用戶也都看過(guò)了，因此，我想還是跟大家分享下，不同價(jià)位的測(cè)厚儀，便宜在哪，貴在哪，解決用戶根據(jù)系統(tǒng)解決不了的問(wèn)題。
1、基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)
基體金屬電性質(zhì) 基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
2、基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
3、邊緣效應(yīng)
美國(guó)達(dá)高特涂層測(cè)厚儀對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
4、 曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。
5、試件的變形
測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測(cè)不出可靠的數(shù)據(jù)。
6、表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
7、附著物質(zhì)
美國(guó)達(dá)高特涂層測(cè)厚儀對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。
8、 測(cè)頭壓力
測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
9、測(cè)頭的取向
測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。美國(guó)達(dá)高特涂層測(cè)厚儀在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。
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